发布时间:2025-09-19
样品介绍：本次测试的样品为元器件上面的塑料
测试目的：测试每个元器件塑料颜色的差异
本次测试采用高光谱颜色测量设备进行测量
高光谱相机覆盖400~1000nm波长范围
采用线性推扫成像方案
照明光源采用条形卤素光源
设备采用暗室结构设计，样品放置暗室载物台上
Lab计算采用2°视角、D65光源参数
样品放置水平位移台上，匀速平移
| 设备规格参数 | |
| 光谱范围 | 400~1000nm |
| 光谱分辨率 | ≤2.8nm |
| 光谱波段数 | 256 |
| F数 | F/2.6 |
| 空间像素数 | 320 |
| 探测器类型 | CMOS |
| 探测器接口 | GigE |
| 有效位深 | 12bits |
光谱曲线
Lab值
测试结论OK表示当前选区计算出的∆E＜0.5
测试结论NG表示当前选区计算出的∆E＞0.5
ΔE值解释标准：
0-1: 人眼几乎无法察觉的颜色差异。
1-2: 只有经过训练的人才能察觉到细微差异。
2-3: 未经过训练的人也能察觉到轻微的颜色差异。
3-6: 显而易见的颜色差异。
6-12: 强烈的颜色差异。
>12: 颜色完全不同
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